상세 보기
SiON MOSFET의 전기적 계면 트랩에 대한 양자화학적 연구
Quantum chemical study of electrically active interface traps in SiON MOSFETs
- 제목
- SiON MOSFET의 전기적 계면 트랩에 대한 양자화학적 연구
- 제목 (타언어)
- Quantum chemical study of electrically active interface traps in SiON MOSFETs
- 저자
- 이은철
- 발행일
- 2007-10-04
- 학회명
- 한국전기화학회 추계학술대회
- 개최지
- 연세대학교
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2007-10-04 ~ 2007-10-04