상세 보기
Characterization of GeSn deposited on Si by low-temperature sputter epitaxy
- 제목
- Characterization of GeSn deposited on Si by low-temperature sputter epitaxy
- 저자
- 조성재
- 발행일
- 2016-02-23
- 학회명
- The 23rd Korean Conference on Semiconductors (KCS)
- 개최지
- 강원도 하이원리조트
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2016-02-22 ~ 2016-02-24